2022-05-27
铝壳电(dian)(dian)池在(zai)存储过(guo)程中电(dian)(dian)压下降(jiang)很快,厂家(jia)一(yi)(yi)般按(an)每(mei)天的压降(jiang)mV来测(ce)量的,单位是(shi)mV/天,质量良好的电(dian)(dian)池电(dian)(dian)压降(jiang)每(mei)天不会超过(guo)2mV。也有一(yi)(yi)些厂家(jia)采用K值计算的方法(fa),即mV/h,一(yi)(yi)小时压降(jiang)多少mV,好电(dian)(dian)池K值一(yi)(yi)般在(zai)0.08mV/h以内。
铝壳电(dian)池(chi)自放(fang)电(dian)的(de)原(yuan)因常见有两种,即(ji)物理微短路和化学反应(ying),具体如下:
一、物理微短路
铝壳电池(chi)引起物理微短(duan)路(lu)的原因有多种(zhong),如下:
1、粉尘和(he)毛刺(ci):将自放(fang)电(dian)大的电(dian)池拆开(kai)会(hui)发现(xian)隔(ge)膜上有黑点,中间位(wei)置是粉尘击穿的主要部位(wei),边缘位(wei)置是毛刺(ci)的主要部位(wei)。
2、正极金属(shu)杂质(zhi):正金属(shu)杂质(zhi)在充电后发生(sheng)反应会击穿隔膜(mo),在隔膜(mo)上(shang)形成(cheng)黑点,造成(cheng)物理微短路。
3、负(fu)极金(jin)属杂质(zhi):由(you)于(yu)原(yuan)电池的(de)形(xing)成(cheng),负(fu)极金(jin)属杂质(zhi)会游(you)离,沉积在隔(ge)膜内(nei)而引起隔(ge)膜传导,形(xing)成(cheng)物理(li)微短路。
二、化学反应
1、水(shui)分引起铝壳电池电解(jie)液分解(jie),释放(fang)出(chu)大量电子,电子嵌入正(zheng)极(ji)氧化(hua)结构中,从而引起正(zheng)极(ji)电位下降(jiang),导致低(di)压。
2、有些(xie)电(dian)解液溶剂(ji)会导致电(dian)池电(dian)压下(xia)降过(guo)快,这些(xie)溶剂(ji)不耐(nai)氧化(hua),储存过(guo)程中化(hua)学反应缓慢,消耗(hao)容量从而造成电(dian)压下(xia)降。
3、铝(lv)壳电(dian)池在(zai)存储过(guo)程中,由于(yu)仓库有一定的温度(du),导(dao)致SEI薄膜脱落和(he)再(zai)反应,导(dao)致电(dian)池膨胀、低压等(deng)。
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目前,锂离子(zi)(zi)电(dian)池中使用的负极(ji)(ji)材(cai)料(liao)(liao)一般为(wei)碳材(cai)料(liao)(liao),如(ru)石墨、软碳 (如(ru)焦炭等) 、硬碳等。正在探索(suo)的阳极(ji)(ji)材(cai)料(liao)(liao)包括(kuo)氮化(hua)(hua)物,PAS,锡基(ji)氧化(hua)(hua)物,锡基(ji)氧化(hua)(hua)物,锡合(he)金和纳米负极(ji)(ji)材(cai)料(liao)(liao)。作(zuo)为(wei)锂离子(zi)(zi)电(dian)池的负极(ji)(ji)材(cai)料(liao)(liao),要求(qiu)具有以下(xia)基(ji)本(ben)性能:(1) 锂离子(zi)(zi)在负极(ji)(ji)基(ji)体中的插入氧
一、应用(yong)领域比较聚(ju)合(he)物软包(bao)锂(li)电(dian)(dian)(dian)池和镍氢(qing)电(dian)(dian)(dian)池的区别在于,锂(li)电(dian)(dian)(dian)池电(dian)(dian)(dian)流(liu)小,更适合(he)用(yong)于产品(如手机(ji)),但用(yong)于大电(dian)(dian)(dian)流(liu)产品(如数码相机(ji))时(shi),由于耗(hao)电(dian)(dian)(dian)量大,功(gong)耗(hao)要大很(hen)多,镍氢(qing)电(dian)(dian)(dian)池比较好用(yong)。二、优(you)缺点比较聚(ju)合(he)物软包(bao)锂(li)电(dian)(dian)(dian)池优(you)点:没有(you)记忆效(xiao)应,重(zhong)量轻。缺点:成本高、电(dian)(dian)(dian)流(liu)
铝(lv)壳(qiao)(qiao)电(dian)池在(zai)(zai)一(yi)定时(shi)间(jian)内(nei)的(de)容量(liang)是一(yi)定的(de),其(qi)放电(dian)速(su)率指的(de)是与常规(gui)放电(dian)作比较,在(zai)(zai)相同(tong)的(de)时(shi)间(jian)内(nei),其(qi)放电(dian)量(liang)是常规(gui)放电(dian)的(de)几(ji)倍。在(zai)(zai)不(bu)同(tong)电(dian)流下(xia)可以释放的(de)能(neng)量(liang)。一(yi)般来说,铝(lv)壳(qiao)(qiao)电(dian)池需要测试其(qi)在(zai)(zai)不(bu)同(tong)恒流条件(jian)下(xia)的(de)放电(dian)性能(neng),那么(me)人们是如何评(ping)估铝(lv)壳(qiao)(qiao)电(dian)池的(de)放电(dian)倍率的(de)呢?当(dang)用N倍1C
低(di)温(wen)(wen)锂(li)(li)电(dian)池(chi)根(gen)据(ju)放电(dian)性能可分(fen)为储能低(di)温(wen)(wen)锂(li)(li)电(dian)池(chi)和倍(bei)率型低(di)温(wen)(wen)锂(li)(li)电(dian)池(chi),低(di)温(wen)(wen)储能型锂(li)(li)电(dian)池(chi)一(yi)般应用(yong)(yong)(yong)于军用(yong)(yong)(yong)平(ping)板、空降兵(bing)装置、军用(yong)(yong)(yong)导航、无(wu)人(ren)机启动备(bei)用(yong)(yong)(yong)电(dian)源、专用(yong)(yong)(yong)电(dian)源、卫星信号(hao)接收器、海洋数据(ju)监测(ce)设备(bei)、空中数据(ju)监测(ce)设备(bei)等领域中,倍(bei)率型低(di)温(wen)(wen)锂(li)(li)电(dian)池(chi)一(yi)般应用(yong)(yong)(yong)于红(hong)外激(ji)光装备(bei)、
由于(yu)各锂电(dian)池(chi)(chi)厂商在(zai)生(sheng)(sheng)产(chan)(chan)工艺和(he)电(dian)池(chi)(chi)原材料配方上的(de)(de)差(cha)异,市场上的(de)(de)聚(ju)合(he)物电(dian)池(chi)(chi)分为缠绕型和(he)重叠(die)型两种不(bu)同的(de)(de)结构。相(xiang)反,越厚的(de)(de)液体锂电(dian)池(chi)(chi)越好生(sheng)(sheng)产(chan)(chan),小(xiao)于(yu)4mm厚度的(de)(de)电(dian)池(chi)(chi)很难生(sheng)(sheng)产(chan)(chan),即使(shi)生(sheng)(sheng)产(chan)(chan)出来,容(rong)量明显不(bu)如聚(ju)合(he)物锂电(dian)池(chi)(chi),在(zai)成本上也没有(you)优势(shi)。因(yin)此,电(dian)池(chi)(chi)越薄,聚(ju)合(he)物生(sheng)(sheng)
磷(lin)酸铁(tie)(tie)锂(li)(li)电(dian)池(chi)的(de)生(sheng)产(chan)(chan)制造(zao)工艺与其他锂(li)(li)电(dian)池(chi)生(sheng)产(chan)(chan)工艺流程图相(xiang)似。锂(li)(li)电(dian)池(chi)的(de)生(sheng)产(chan)(chan)工艺有(you)两(liang)种。因(yin)此,磷(lin)酸铁(tie)(tie)锂(li)(li)电(dian)池(chi)的(de)生(sheng)产(chan)(chan)工艺流程图有(you)两(liang)种,分别是卷绕式工艺和叠片式工艺。除了电(dian)极片的(de)堆叠步(bu)骤不同外,这两(liang)种工艺基(ji)本相(xiang)同。叠片式工艺的(de)优(you)点是:(1) 电(dian)池(chi)芯(xin)的(de)形状和样式是